工业硅粉在检验筛筛分试验过程中的“筛不净”问题
2009-5-9 来源：刘艳招-新乡市高服筛分机械有限公司
物料名称：工业硅粉
物料特性：显微镜下形状呈不规则棱角分明硅晶体、易碎、与塑料有静电反应
使用设备：A：200型标准检验筛 B：200型拍击筛 C：超声波检验筛
实验物料：100克
配用筛格：20目、30目、40目、60目、80目
实验记录：
项目 | 使用设备 | 物料重量 | 试机时间 | 结果 |
A | 200型标准检验筛 | 100克 | 12分钟 | 40-60目物料有5%左右残余，物料有卡网现象 |
B | 200型拍击筛 | 100克 | 10分钟 | 40-60目物料有5-8%左右残余，物料有卡网现象，拍击作用下部分碎裂 |
C | 超声波检验筛 | 100克 | 5分钟 | 40-60目物料有5%左右残余，物料有卡网现象 |
结论：
综合以上实验情况得出：
对于工业硅粉筛分，因为晶体的不规则性和易碎性，在检验过程中会有部分物料卡网、或者因不规则粒径导致不容易透网。使用超声波仅提高50%检验时间，但是造价太高，200目以粗物料检测不建议采用。使用拍击筛易造成部分硅晶体碎裂而影响检测精度。因此*佳方案为200型标准检验筛试验。检验筛透网率≥90%属于正常范畴，对于多晶硅形状不规则情况，可进行重复性或长时间检测！
附图：
一、40目物料显微镜下形态
二、60目物料显微镜下形状
三、试验物料100克
四、使用筛格
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