半导体器件载带iOI光学检测机 半导体器件载带iOI光学检测机
产品简介
半导体器件载带iOI光学检测机
产品详细信息
半导体器件载带iOI光学检测机
产品介绍:
采用了高速数字相机和处理器,在线连续检测速度可达300米/小时,运用专用LED光源系统和强大的PC式图像处理及分析软件,可有效的检测承载带(Carrier Tape)的多种缺陷。
采用了高速数字相机和处理器,在线连续检测速度可达300米/小时,运用专用LED光源系统和强大的PC式图像处理及分析软件,可有效的检测承载带(Carrier Tape)的多种缺陷。
检测内容及指标:
检测包装带(Carrier Tape)的表面缺陷和成型**,主要内容有:成型**、穿孔、刮痕、油污、尺寸超差等缺陷。
采用640x480像素或更高分辨率数字相机,视场大小64mmx48mm或更大,可以保证每幅图片200ms以内的处理速度,测量重复精度好于±0.1mm.亦可以根据不同的客户需要改装定制。
检测包装带(Carrier Tape)的表面缺陷和成型**,主要内容有:成型**、穿孔、刮痕、油污、尺寸超差等缺陷。
采用640x480像素或更高分辨率数字相机,视场大小64mmx48mm或更大,可以保证每幅图片200ms以内的处理速度,测量重复精度好于±0.1mm.亦可以根据不同的客户需要改装定制。
兰生公司始终站在检测行业的前沿前端,向国内用户提供自动光学在线检测设备的营销服务。欢迎前来咨询:0519-88113113/88116544/88101023 束小姐:13685238930 shujuhua2009@gmail.com